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百辉测量设备（西安）有限公司昆山办 
| 联系人：刘洛淇 女士 (销售 经理) |
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| 电 话：0159-62160211 |
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| 手 机：15962160211 |
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| 供应RenishawTP200测头TP200B测头体 |
TP200系统组件包括：• TP200或TP200B测头体（TP200B为变体，振动公差更大）• TP200测针模块 — 选择固定超程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）• PI 200测头接口• SCR200测针交换架
还有一种EO模块（长超程），超程力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴提供保护。
其特点及优点如下：• 应变片技术具有无可比拟的重复性和精确的3D轮廓测量。• 零复位误差。• 无各向同性影响。• 6向测量能力• 测针测量距离达100 mm（GF测针）• 快速测头模块交换，无需重新标定测尖• 寿命 >1000万次触发 TP200 TP200B
主要應用 需要高精度的DCC CMM。 和TP200相同，但是會發生「空氣」觸發的場合。
觸發方向 6軸：±X、±Y、±Z 6軸：±X、±Y、±Z
單向重複性（2s µm） 觸發水平1：0.40 µm（0.000016英吋）
觸發水平2：0.50 µm（0.00002英吋） 觸發水平1：0.40 µm（0.000016英吋）
觸發水平2：0.50 µm（0.00002英吋）
XY（2D）形式量測偏差 觸發水平1：±0.80 µm（0.000032英吋）觸發水平2：±0.90 µm（0.000036英吋） 觸發水平1：±1 µm（0.00004英吋）觸發水平2：±1.2 µm（0.000047英吋）
XYZ（3D）形式量測偏差 觸發水平1：±1 µm（0.00004英吋）觸發水平2：±1.40 µm（0.000056英吋） 觸發水平1：±2.50 µm（0.0001英吋）觸發水平2：±4 µm（0.00016英吋）
探針更換重複性 帶SCR200：*大±0.50 µm（0.00002英吋）手動：*大±1 µm（0.00004英吋） 帶SCR200：*大±0.50 µm（0.00002英吋）手動：*大±1 µm（0.00004英吋）
觸發力（探針端部處） XY平面（所有模組）：0.02 NZ軸（所有模組）：0.07 N XY平面（所有模組）：0.02 NZ軸（所有模組）：0.07 N
超行程觸發力（0.50 mm位移時） XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 NXY平面（LF模組）：0.1 N到0.15 NZ軸（SF/EO模組）：4.90 NZ軸（LF模組）：1.60 N XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 NXY平面（LF模組）：0.1 N到0.15 NZ軸（SF/EO模組）：4.90 NZ軸（LF模組）：1.60 N
重量（測頭感測器和模組） 22 g（0.78盎司） 22 g（0.78盎司）
*大延長桿（如果在PH10系列測頭座上） 300mm（11.81英吋） 300mm（11.81英吋）
*大建議探針長度（M2探針系列） SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF
LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF
LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF
安裝方式 M8螺紋 M8螺紋
適合的介面 PI200、UCC PI200、UCC
探針模組更換架 自動：SCR200手動：MSR1 自動：SCR200手動：MSR1
探針系列 M2 M2 |
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